Park 原子力顯微鏡 NX20(200mm)
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產品特色
- 對樣品和基片進行表面光潔度量測，表面光潔度量測能够帶來精確的失效分析和品質保證。
- 低雜訊Z探測器量測準確的樣品表面形貌，沒有壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
- 超低雜訊Z探測器，譟音水准低於0.02 nm
產品資訊
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原廠名稱
Park -
製程名稱
8吋(200mmX200mm)大樣品量測 -
英文名稱
NX20(200mm) -
產品細目
大樣品AFM
