Language
ALL
  • ALL
  • 制程
  • 厂商
PARK 原子力顯微鏡 NX20

1 2
产品特色
  • 對樣品和基片進行表面光潔度量測,表面光潔度量測能够帶來精確的失效分析和品質保證。
  • 低雜訊Z探測器量測準確的樣品表面形貌,沒有壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
  • 超低雜訊Z探測器,譟音水准低於0.02 nm
产品信息
  • 原廠名稱
    Park
  • 製程名稱
    8吋(200mmX200mm)大樣品量測
  • 英文名稱
    NX20
  • 產品細目
    大樣品AFM
连络窗口

若有任何需求,请与我们联系

  • 王纬晨
    • Tel : 0512-62560393ext.522
    • Mail : Daren_Wang@tkk.com.tw
  • 何敏
    • Tel : 0512-62560393 ext.525
    • Mail : Hannah_He@tkk.com.tw
  • 覃基伟
    • Tel : 0769-81884787 ext:8014
    • Mail : Sam_Qin@tkk.com.tw
-->